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8XB正置(明暗场)芯片检查显微镜


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产品简介: 8XB 正置(明暗场)芯片检查显微镜广泛应用于透明、半透明、不透明物质(如金属陶瓷、电 子芯片、印刷电路、LCD 基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层) 等材料表面的结构、痕迹检测,拥有很 好的成像效果。


产品型号

8XB 正置(明暗场)芯片检查显微镜

主要特点

1、采用高分辨率、长工作距离无限光路校正系统物镜成像技术。


2 、拓展了物镜的复用技术, 无限远物镜与所有观察法相兼容, 包括明暗视野法、偏光法,  在每一观察法中均提供高清晰的图像质量。


3 、采用非球面 Kohler 照明,增加观察亮度。

技术参数

1、镜筒: 倾斜 30°


2、高眼点目镜: 倍率 10×, 视场范围 25mm


3 、无限远长工作距离明暗场物镜: 倍率 5×、 10×、 20×、 40×, 数值孔径 0.10 0.25 0.40 0.60 ,工作距离 29.4mm 16mm 10.6mm 5.1mm


4、物镜转换:五孔转换器


5 、调焦机构:粗、微动同轴调焦, 微动格值 0.002mm ,调焦范围 36mm


6、工作台:双层移动平台, 尺寸 311mm×352mm ,移动范围 250mm×250mm


7、照明:垂直照明, 12V/100W 卤素灯,带孔径光阑和视场光阑,亮度可调节

标准配件

1

目镜筒

1 





2

目镜( 10×)

1 

3

无限远长工作距离明暗场物镜(5×、 10×、 20×、 40×)

 1 

可选配件

1 12.5×目镜


2 10×测微镜(测微尺格值 0.01mm


3、无限远长工作距离明暗场物镜(40×、 100×干)