15J测量显微镜
产品简介： 15J 测量显微镜可进行直角座标中的长度测定（如测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、 键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等）、转动度盘的角度测定 （如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几 何形状复杂的零件的角度测量）、显微观察 （以比较法检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本，检 定印刷照相制版，检验纺织纤维等）。
产品型号 | 15J 测量显微镜 |
技术参数 | 1 、 目镜： 倍率 5× ，焦距 5mm |
2、物镜： 倍率 2.5×、 10×， 数值孔径 0.08 、0.25 ，焦距 43.4mm 、17.13mm 3、总放大倍数： 25×、 100× 4、工作距离： 58.84mm 、7.81mm 5、视场直径： 5.6mm 、1.4mm 6 、移动测量范围： X 轴 50mm 、Y 轴 13mm | |
7、测微器分度值： 0.01mm 8 、测量台： 移动范围不限， 刻度盘分度范围 0-360°， 刻度盘分度值 1°，刻度盘游标读数示 值 6' 9、示值误差： ±（ 5+L/15） µm （测量地点温度变化 20℃±3℃， L 为被测件长度， 单位为 mm） 10、测量台与物镜最大距离： 80mm | |
11、测量工作台直径：Φ 120mm |
12、光源：自然光 | |
产品规格 | 尺寸： 262mm×220mm×325mm；重量： 10.6kg |
可选配件 | 1 、40×平场物镜 |
2、外置透射光源 |
